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納米粒度及ZETA電位分析儀

更新時(shí)間:2025-11-20

訪問量:364

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

設(shè)備型號:ZS930

簡要描述:
梓夢-納米粒度及ZETA電位分析儀
顆粒粒度測量

動(dòng)態(tài)光散射(DLS)法原理

當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時(shí),由于顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)引起散射光的頻率偏移,導(dǎo)致散射光信號隨時(shí)間發(fā)生動(dòng)態(tài)變化,該變化的大小與顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度有關(guān),而顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度又取決于顆粒粒徑的大小,顆粒大布朗運(yùn)動(dòng)速度慢,反之顆粒小布朗運(yùn)動(dòng)速度快,因此動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)是分析樣品顆粒的散射光強(qiáng)隨時(shí)間的漲落規(guī)律,使用光子探測
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顆粒粒度測量

動(dòng)態(tài)光散射(DLS)法原理

當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時(shí),由于顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)引起散射光的頻率偏移,導(dǎo)致散射光信號隨時(shí)間發(fā)生動(dòng)態(tài)變化,該變化的大小與顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度有關(guān),而顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度又取決于顆粒粒徑的大小,顆粒大布朗運(yùn)動(dòng)速度慢,反之顆粒小布朗運(yùn)動(dòng)速度快,因此動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)是分析樣品顆粒的散射光強(qiáng)隨時(shí)間的漲落規(guī)律,使用光子探測器在固定的角度采集散射光,通過相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得到相關(guān)函數(shù),再經(jīng)過數(shù)學(xué)反演獲得顆粒粒徑信息。

性能特點(diǎn)

1、高效的光路系統(tǒng):采用固體激光器和一體化光纖集成光路,滿足空間相干性的要求,提高了光強(qiáng)自相關(guān)函數(shù)的信噪比,確保后續(xù)數(shù)據(jù)反演的精度。

2、高靈敏度光子探測器:采用計(jì)數(shù)型光電倍增管或雪崩光電二極管,對光子信號具有很高的靈敏度和信噪比;采用邊沿觸發(fā)模式進(jìn)行計(jì)數(shù),瞬間捕捉光子脈沖的變化。

3、大動(dòng)態(tài)范圍高速光子相關(guān)器:采用高、低速通道搭配的光子相關(guān)器,有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾,實(shí)時(shí)獲取動(dòng)態(tài)范圍大、基線穩(wěn)定的相關(guān)函數(shù)。

4、高精度溫控系統(tǒng):基于半導(dǎo)體制冷技術(shù),采用自適應(yīng)PID控制算法,使樣品池溫度控制精度達(dá)±0.1℃。

5、數(shù)據(jù)篩選功能:引入分位數(shù)檢測異常值的方法,鑒別受灰塵干擾的散射光數(shù)據(jù),并剔除異常值,提高粒度測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。

6、優(yōu)化的反演算法:采用優(yōu)+擬合累積反演算法計(jì)算平均粒徑及多分散系數(shù),基于非負(fù)約束正則化算法反演顆粒粒度分布,測量結(jié)果的準(zhǔn)確度和重復(fù)性都優(yōu)于1%。

7、 背散射光路:使用背散射光路測量高濃度樣品時(shí),由于背散射光不需要穿過整個(gè)樣品,從而減小了散射光程,減弱了多次散射光,進(jìn)而可以測量較高濃度樣品的顆粒粒度。

Zeta電位測量

帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運(yùn)動(dòng),單位電場強(qiáng)度下的電泳速度定義為電泳遷移率。顆粒在電泳遷移時(shí),會帶著緊密吸附層和部分?jǐn)U散層一起移動(dòng),與液體之間形成滑動(dòng)面,滑動(dòng)面與液體內(nèi)部的電位差即為Zeta電位。Zeta電位是表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標(biāo),Zeta電位越高,顆粒間的相互排斥力越大,膠體體系越穩(wěn)定,因此通過測量Zeta電位可以預(yù)測膠體的穩(wěn)定性。

相位分析光散射(PALS)法原理

Zeta電位與電泳遷移率的關(guān)系遵循Henry方程,通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能計(jì)算出顆粒的Zeta電位。電泳光散射(ELS)法通過測量散射光的頻率偏移,來獲得顆粒的電泳遷移率,進(jìn)而確定Zeta電位。而相位分析光散射(PALS)法則通過測量散射光信號的相位變化來獲得顆粒的電泳遷移率,測量分辨率比ELS法高兩個(gè)數(shù)量級,從而提高了Zeta電位的測量精度。

納米粒度及ZETA電位分析儀



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